客户背景
中科院某研究所，承担国家存算一体重大项目，需验证三端SOT-MRAM器件的亚纳秒写入特性。
挑战
• 需要100ps级窄脉冲的精准施加与高速采样
• 器件良率低，需高灵敏度误码检测能力
• 多维参数空间（电流/磁场/脉宽）的系统扫描
极渺方案
定制开发超高速脉冲测试模块，集成误码率实时统计与三维参数可视化分析功能。
成果
• 成功捕获写入错误率与脉宽的S型曲线
• 确定最优写入条件，写入能耗降低40%
• 相关成果发表于Nature Electronics
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